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一、用途
MLT-20大平台检测显微镜是专为IT行业大面积集成电路、晶片的质量检测而设计开发制造的。超大型载物台,样品可作大范围的纵、横方向快慢移动,扩大检测领域的使用范围,适用于电子、冶金、机械、化工、科研、院校等部门,以及金相技术检验,失效分析等。
二、系统简介
主体为:正置式,三目镜筒,比传统的显微镜更适合于观察。上部可安装彩色摄象机连接彩色监视器直接观察,可连接计算机打印报告、照片或连接数码相机。
三、技术参数
1. 目镜
大视野目镜WF10× 视场直径18mm
大视野目镜WF16× 视场直径11mm(选)
平场分划目镜10× (0.1mm格值)(选)
2. 物镜:
物镜 数值孔径NA 工作距离
4X 0.10 17.9
10X 0.25 6.54
20X 0.40 1.05
40X 0.65 0.74
60X(选) 0.85 0.26
100X(选) 1.25 0.44
3. 三目镜筒:滑板式
4. 同轴粗微动调焦机构
调焦范围:25mm 格值0.002 mm
5. 载物台面积:350mm×255mm
纵向移动: 200mm 横向移动:200mm
6. 落射照明光源:6v20w卤素灯 内藏式连续调光电源
四、系统组成
电脑型金相显微镜(MLT-20C): 1、金相显微镜 2、适配镜 3、摄像器(CCD)
4、A/D(图像采集) 5、计算机(选)
数码相机型金相显微镜(MLT-20D): 1、金相显微镜 2、适配镜 3、数码相机(NIKON)
五、总放大参考倍数
MLT-20C型: 40--2600倍 (17寸显示器为例)
MLT-20D型: 40--2500倍 (尼康数码相机 4500型)
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